CXT2661型四探針?lè)綁K電阻測(cè)試儀
CXT2661型四探針?lè)綁K電阻測(cè)試儀同時(shí)也是電阻率測(cè)試儀、電導(dǎo)率測(cè)試儀.本儀器是一款低功耗手持式儀器，適用于片狀或塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率及擴(kuò)散層的薄層電阻率測(cè)試、太陽(yáng)能等材料的測(cè)試，配置不同的測(cè)試探頭，可以測(cè)量柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等材料的電阻率/方塊電阻，也可使用電阻測(cè)試夾具直接測(cè)量電阻器電阻、開(kāi)關(guān)接觸電阻等。

CXT2661型四探針?lè)綁K電阻測(cè)試儀適用范圍:
儀器可根據(jù)客戶需要配置不同的測(cè)試探頭，測(cè)量半導(dǎo)體材料、柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、太陽(yáng)能材料、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等材料的電阻率/方阻，也可使用電阻測(cè)試夾具直接測(cè)量電阻器電阻、開(kāi)關(guān)接觸電阻等。 本儀器采用可充電電池供電，適合手持式變動(dòng)場(chǎng)合操作使用！

儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、器件廠、科研單位、高等院校等研究生產(chǎn)單位對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料、類半導(dǎo)體材料、器件的導(dǎo)電性能的測(cè)試，滿足對(duì)材料(棒材、片材等)和導(dǎo)電薄膜方塊電阻測(cè)量的需要。

CXT2661型四探針?lè)綁K電阻測(cè)試儀產(chǎn)品描述:
電阻測(cè)試范圍:1mΩ-100KΩ;方阻測(cè)試范圍: 1mΩ/□-100KΩ/□; 電阻率測(cè)試范圍取決于電阻測(cè)試范圍及被測(cè)件尺寸;手持大容量電池方便攜帶

CXT2661型四探針?lè)綁K電阻測(cè)試儀性能特點(diǎn)
?*高電阻精度：0.1 %；電阻*小分辨：1mΩ
?*高方阻精度：5%；電阻*小分辨：1mΩ
?被測(cè)件厚度可預(yù)設(shè),電阻率測(cè)試無(wú)需查表
?零底數(shù)設(shè)計(jì)，微弱電阻測(cè)試無(wú)需清零
?多種探頭可選,應(yīng)對(duì)各種特性材料的方阻電阻率測(cè)試
?3檔比較功能: 合格/超上限/超下限
?電阻/方阻/電阻率可切換顯示
?符合GBT 1551-2009及GBT 1552-1995
?6000mAh大容量電池,持久續(xù)航
?適用于測(cè)量半導(dǎo)體、導(dǎo)電薄膜、金屬/納米涂層、太陽(yáng)能材料、陶瓷等，也可直接測(cè)量電阻器